線性壓電納米位移臺MF30系列 參考價：面議
線性壓電納米位移臺MF30系列，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環(huán)境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺MF40-25A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺MF40-25A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環(huán)境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺ML-15A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-15A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環(huán)境，支持定制納米位移臺。
線性壓電納米位移臺ML-23A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-23A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環(huán)境，是小空間內(nèi)大行程高精度的定位的優(yōu)先選擇產(chǎn)品。支持定制納米...
低溫恒溫器系統(tǒng) 參考價：面議
低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統(tǒng)，使用氣體導熱隔震，實現(xiàn)樣品臺納米級的機械穩(wěn)定性。為有效降低環(huán)境震動影響，產(chǎn)品設計安裝在光學隔震平臺上。
低溫液氮探針臺 LN-4H-06 參考價：面議
低溫液氮探針臺 LN-4H-06產(chǎn)品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規(guī)、智能溫控儀等組成。
手動探針臺系統(tǒng) 參考價：面議
手動探針臺系統(tǒng)，可測試晶圓尺寸:最大4英寸樣品臺行程:100mm*100mm移動分辨率:~0.1mm樣品臺旋轉范圍:360度低漏電底柵接口，標準Triax 輸出...
ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
ZP3-4 微納探針臺包含4個壓電三軸探針臂，每個三軸配備1個可拆卸式電學探針接口，可在毫米級尺度上進行宏觀運動并實現(xiàn)納米尺度上的微觀運動。
SEM納米探針臺 參考價：面議
SEM納米探針臺產(chǎn)品實現(xiàn)了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優(yōu)點，可應于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運動操...
室溫半自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
室溫半自動探針臺 TZ-H-06室溫自動探針臺，高可靠性探針臺系統(tǒng)，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物...
干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06產(chǎn)品特點，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或者額...
壓電物鏡NF100LA 參考價：面議
壓電物鏡NF100LA采用壓電陶瓷驅動的納米級物鏡掃描臺，內(nèi)部使用無摩擦及空回的柔性較鏈導向機構，確保了掃描臺優(yōu)秀的運動精度。
超高真空微型光柵尺SMG26 參考價：面議
體積小、結構緊湊超高真空微型光柵尺SMG26特點，體積小，結構緊湊，適用于超高真空使用，良好的耐高溫性，最高可達100℃，SMG26系列光柵的柵距為256μm，...
真空組件及配件 參考價：面議
真空組件及配件，各種類型都有，可定制真空饋通，本頁面未找到您需要的產(chǎn)品請聯(lián)系客服。
線性壓電納米位移臺ML-37A 參考價：面議
線性壓電納米位移臺ML-37A，大行程直線位移臺，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時還兼具低溫真空等應用環(huán)境，是小空間內(nèi)大行程高精度的定位的優(yōu)先選擇產(chǎn)品。支持定制納米...
多種旋轉位移臺 參考價：面議
多種旋轉位移臺可實現(xiàn)高精度及高分辨率的開環(huán)/閉環(huán)控制，適用于大氣及真空環(huán)境下工作。
隧道顯微鏡 參考價：面議
掃描隧道顯微鏡STM（Ultrascan LT-100），掃描探針顯微鏡（STM）為代表的超高真空設備廣泛應用于科學研究中，主要進行對表面有關或者在表面發(fā)生的所...
二維材料轉移系統(tǒng) 參考價：面議
二維材料轉移系統(tǒng)，可用于機械解理的各種二維材料的轉移及二維材料范德華異質(zhì)結的堆疊，尤其適用于二維材料的精準轉角調(diào)控。
半自動、全自動臺階儀 參考價：面議
半自動、全自動臺階儀。JS100B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時探針掃描時可實時觀察掃描區(qū)域。JS2000...
手動臺階儀 JS10B 參考價：面議
國產(chǎn)手動臺階儀 JS10B，穩(wěn)定可靠的重復性測量，采用金剛石探針，無畸變的觀察樣品區(qū)，實時觀察掃描區(qū)域，突破三個核心技術，國內(nèi)研發(fā)生產(chǎn)，便于售后服務?！局С侄ㄖ?..
原位解決方案力學-電學測量系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案力學-電學測量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實現(xiàn)高精度的力學及電學測量。
原位解決方案-低溫電學測試系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案-低溫電學測試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元，從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實現(xiàn)光電測量或者CL測量。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng) 參考價：面議
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環(huán)境...
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